ESD 普遍被認(rèn)為是許多半導(dǎo)體器件制造、運(yùn)輸和裝卸過程中的一種常見危害。并被列為MIL-STD-883 標(biāo)準(zhǔn)的第 2 類“人體靜電放電模式”，也就是說它們能承受 2kV 的靜電放電。盡管 LED 配備了防護(hù)裝置，但靜電放電時(shí)還是有可能導(dǎo)致 EOS 損壞。
什么叫瞬態(tài)過電流事件？
發(fā)生瞬態(tài)過電流事件時(shí)，經(jīng)過 LED 的電流將高于 LED 技術(shù)數(shù)據(jù)表中的最大額定電流，這可能是通過高電流直接產(chǎn)生或通過高電壓間接產(chǎn)生。這些事件都是瞬態(tài)的，就是說它們發(fā)生時(shí)只持續(xù)極短的時(shí)間，通常不會超過一秒鐘。有時(shí)候也將它們稱作“尖鋒”，例如“電流尖鋒”或“電壓尖鋒”。如果在 LED 接通電源或插入通電的電源（也稱作“帶電插拔”）時(shí)立即產(chǎn)生過電流事件，這種過電流事件被稱作“浪涌電流”。
什么叫過驅(qū)動？
在發(fā)生過驅(qū)動時(shí)，LED 持續(xù)受到最大額定電流的驅(qū)動，這可能是驅(qū)動電路設(shè)計(jì)原因引起，無論有意還是無意。 鑒于這是 LED 驅(qū)動電路中的一種設(shè)計(jì)選擇，本應(yīng)用說明在此就不贅述該原因引起的 EOS 相應(yīng)的保護(hù)電路。
LED過電沖擊的 兩種常見癥狀
1、焊接線損壞
因 EOS 而導(dǎo)致的其中一種常見失效模式是 LED 封裝內(nèi)部的焊接線受損，如下圖 1 所示。這種損壞通常表現(xiàn)為接線燒毀或燒斷。此外，EOS 事件還能導(dǎo)致靠近焊接線的其它材料損壞，例如密封材料或熒光體。
2、焊盤附近損壞
因 EOS 而導(dǎo)致的另一種常見失效模式是 LED 芯片本體靠近焊盤的位置受損，如下圖 2 所示
總結(jié)
正確的燈具設(shè)計(jì)是在不斷發(fā)展的 LED 照明市場中推出成功產(chǎn)品的關(guān)鍵。大多數(shù) LED 電路設(shè)計(jì)人員都知道良好的熱、光和電氣設(shè)計(jì)原理，但是可能未曾考慮過增加保護(hù)電路來防范不當(dāng)使用或帶電插拔所造成的損壞。并非每種應(yīng)用都需要過電沖擊保護(hù)，而且增加此類保護(hù)也會增加設(shè)計(jì)成本，并可能降低效率。建議給未帶板載電源的 LED 模組增加一定級別的保護(hù)，以盡量降低因分離式電源而出現(xiàn)浪涌電流情況的風(fēng)險(xiǎn)。習(xí)慣于安裝能經(jīng)受帶電插拔的傳統(tǒng)照明產(chǎn)品的安裝人員可能會偶然帶電插拔 LED 陣列，而導(dǎo)致 LED 燈具失效。使用成本低
